Decapsulação profissional de chips, abertura química, decap a laser e exposição do die para MCU, SOC, memória e circuitos integrados. Desbloqueie o die interno para análise de falhas, engenharia reversa e investigação de segurança de hardware.
Vários métodos de decapsulação para diferentes tipos de encapsulamento, incluindo DIP, QFP, QFN, BGA, SOIC e outros.
Ataque ácido por via química húmida para microcontroladores encapsulados em epóxi. Remoção precisa do epóxi para expor o die de silício, adequado para encapsulamentos de IC de plástico comuns.
Ablação a laser sem contacto para chips sensíveis. Minimiza o risco térmico, ideal para dispositivos BGA, de pinos finos e amostras onde o ataque químico não é viável.
Imagiologia de alta resolução ao microscópio após a decap. Captura de fotos do die, inspeção dos fios de ligação e registo de defeitos para relatórios de análise.
A decapsulação de microcontroladores é um processo profissional de análise física de semicondutores utilizado para remover o encapsulamento externo de epóxi dos chips de MCU. Este serviço técnico avançado tem como objetivo expor com segurança o die interno de silício sem causar danos estruturais desnecessários. Todos os microcontroladores no mercado são protegidos por um encapsulamento de resina espesso para proteger os circuitos internos de interferências externas. O encapsulamento exterior protege os pequenos núcleos do die, os fios de ligação metálicos, as pistas de circuito internas e os módulos de fusíveis de segurança. Os métodos de desmontagem comuns não conseguem aceder a estas estruturas internas microscópicas. A tecnologia profissional de decapsulação proporciona acesso físico eficaz para investigação e teste de chips. O nosso serviço cobre todas as séries de microcontroladores e formas de encapsulamento comuns. Apoiamos dispositivos de MCU encapsulados em DIP, SOIC, QFP, QFN, BGA e PLCC. Adotamos duas soluções técnicas principais, incluindo a decapsulação química e a decapsulação a laser. Cada solução é cuidadosamente selecionada de acordo com a espessura do encapsulamento do chip e a sensibilidade da estrutura interna. A decapsulação química utiliza ataque ácido de precisão para dissolver as camadas de epóxi uniformemente. A decapsulação a laser utiliza ablação a laser de alta precisão para remoção do encapsulamento sem contacto. Ambos os métodos conseguem preservar eficazmente os fios de ligação completos e as superfícies do die. A decapsulação de microcontroladores é a base central da análise de falhas de hardware. Muitas falhas de MCU não podem ser identificadas através de testes elétricos convencionais. Queimaduras internas, ruturas de circuito e defeitos de wafer só podem ser observados após a decapsulação.
Este serviço ajuda os engenheiros a localizar com precisão pontos de curto-circuito e áreas de circuito danificadas. Também suporta a deteção de chips contrafeitos e a verificação da autenticidade de componentes. Muitos MCUs reciclados e remarcados escondem problemas internos de envelhecimento e danos. A decapsulação pode expor claramente defeitos físicos ocultos e vestígios de contrafação. O serviço é amplamente aplicado na engenharia reversa de sistemas embebidos. Os investigadores dependem da decapsulação para observar o layout original do die e o design do circuito. Ajuda a analisar os mecanismos de armazenamento de firmware e as estruturas de segurança de hardware. Os microcontroladores protegidos geralmente definem bloqueios de segurança físicos no die de silício. A decapsulação permite aos técnicos observar o estado dos fusíveis de segurança e das estruturas de encriptação. Isto suporta a avaliação de segurança de hardware e a investigação de vulnerabilidades. As equipas de manutenção industrial utilizam a decapsulação para reparar equipamentos de MCU descontinuados. Muitos dispositivos industriais antigos adotam modelos de microcontroladores obsoletos sem documentos técnicos públicos. A decapsulação ajuda a restaurar os dados de design de circuito original para a manutenção de equipamentos. O processo controla rigorosamente o tempo de reação e a temperatura de trabalho para evitar danos no die. A nossa equipa técnica realiza uma limpeza de resíduos passo a passo após a remoção do encapsulamento. Removemos os resíduos de epóxi excedentes sem riscar as pistas metálicas. Cada amostra decapsulada passa por uma inspeção visual rigorosa ao microscópio industrial.
Verificamos a integridade dos fios de ligação, o estado das almofadas e a limpeza da superfície do die. As amostras qualificadas serão fotografadas e registadas com imagiologia de alta resolução. Fornecemos dados de observação completos e relatórios de análise profissionais para cada projeto. Todos os procedimentos de processamento seguem as normas internacionais de análise de semicondutores. Garantimos uma taxa de sucesso estável e uma baixa taxa de danos para amostras em massa. O nosso serviço suporta testes de amostra única e processamento de engenharia em lote. Fornecemos soluções personalizadas para encapsulamentos cerâmicos especiais e chips de encapsulamento ultrafino. A decapsulação de microcontroladores é um meio técnico necessário para a investigação de semicondutores. Preenche a lacuna entre os testes elétricos externos e a análise da estrutura física interna. Fornece provas físicas fiáveis para a certificação de produtos e a rastreabilidade de falhas. Apoia eficazmente a melhoria de produtos empresariais e a investigação e desenvolvimento técnico. Também fornece um importante suporte técnico para projetos de investigação científica universitária e laboratoriais. Cada procedimento é operado por engenheiros de semicondutores experientes. Evitamos danos artificiais e corrosão excessiva durante o processamento. Garantimos que o estado original interno do chip é maximamente preservado. Os clientes podem obter imagens intuitivas do die e resultados completos de análise estrutural. Este serviço tornou-se um suporte técnico essencial para a indústria eletrónica. Continua a ajudar empresas em todo o mundo a resolver eficientemente vários problemas de análise interna de MCU.
Observação do die de MCU e análise dos fios de ligação para investigação de segurança de hardware.
Deteção de defeitos internos do die, curto-circuitos, marcas de queimadura e danos físicos.
Avaliação de segurança física para dispositivos de microcontroladores protegidos.
Inspeção visual para identificar circuitos integrados contrafeitos ou remarcados.